LETID Test Sistemi (Light and Elevated Temperature Induced Degradation)
IEC63342 standardına uygun olarak tasarlanmış bir LETID test sistemi. Belirli sıcaklık ve nem koşulları altında, bileşenlere 2 (Isc, Imp) akım uygulayarak karanlık voltajlarını ve eğilimlerini izleyebilir.
Standartlar : IEC63342
){kind=link}
-
Dört telli güç kaynağı benimsenmiştir; voltaj algılama kanalı ile akım kanalı ayrı olarak ayarlanmıştır.
-
Kullanıcı dostu arayüz sunar; yüksek kaliteli endüstriyel kontrol bilgisayarları kullanılarak sistemin uzun süreli kararlı çalışması sağlanır. Akım ve sıcaklık gibi verileri izleyebilir, test sürecine ait akım ve sıcaklık eğrilerini geri çağırabilir, Excel formatında çıktı ve yazdırma yapabilir.
-
Karanlık voltajı kaydedebilir, her bir bileşenin sıcaklık düzeltilmiş karanlık voltajını ayrı ayrı kaydedebilir ve karanlık voltaj verilerinin gerçek zamanlı gelişimini görüntüleyebilir.
-
Testin durdurulma koşullarını belirleyebilir ve standart durdurma koşulları sağlandığında testi otomatik olarak sonlandırabilir.
-
Test raporu oluşturabilir; raporda karanlık voltaj değişim oranı ve ortalama değişim oranı gösterilir, minimum ve durdurma noktaları işaretlenir.
-
Cihaz sesli ve ışıklı alarm sistemine sahiptir. Alarm durumunda cihaz otomatik olarak kapanır.