PID Test System (Potential Induced Degradation Test System)
The ZW-PID test system applies voltage to evaluate the robustness of a module design against applied system voltage-induced degradation, known as "Potential Induced Degradation" (PID). Standards: IEC61215-MQT21，IEC62804
Her bir bileşen için 4 telli test yöntemi kullanılır; 2 yüksek gerilim kablosu ve 2 topraklama kablosu.
Yüksek gerilim hattı, bileşenin içine bağlantı kutusu aracılığıyla bağlanırken; topraklama kablosu, çerçeveye veya diğer uygun konumlara bağlanır.
Özellikler:
Birden fazla gerilim, kaçak akım ve yalıtım direnci aynı anda görüntülenebilir.
Gerilim, kaçak akım ve yalıtım direnci eğrileri gerçek zamanlı olarak izlenebilir.
Farklı voltaj seviyeleri, özel ihtiyaçlara göre ayrı ayrı programlanabilir ve ayarlanabilir.
Gerilim ileri ve geri yönlerde programlanabilir, her kanal için bireysel ayarlama yapılabilir.
Sistem pozitif ya da negatif topraklamasını simüle edebilir.
Endüstriyel bilgisayar kontrolü, Windows 10 işletim sistemi ile çalışır. Test sonuçlarını ekranda görüntüler ve test süresince verileri kaydeder.
Bileşen seri numarası, test süresi ve test adı girilerek geçmiş verilere ve grafiklere ulaşılabilir.
Aşırı akım ve düşük gerilim gibi alarm parametreleri ayrı ayrı ayarlanabilir.